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機器分析講習会2026春～はじめての機器分析～
本講習会では、今春から分析機器を用いた研究を始められる方を対象に、基礎的な分析に用いられる機器をご紹介します。走査電子顕微鏡や質量分析装置など、研究を進める上で必要な機器について、どのような試料準備が必要なのか、また測定によってどのようなことがわかるのかを、初歩的な内容からご説明します。試料の取り扱いから測定操作まで、見学や体験を交えながらご紹介します。
◆日時
令和8年６月17日（水） ～ 令和8年7月1日（水）, 13:00～17:00の間
時間はプログラムによって変わります。
◆場所
福井大学文京キャンパス オープンR&Dファシリティ 及び ふくい産学官共同研究拠点
◆プログラム
6/17 13：00～17：00 SEM：JEOL JCM-6000Plus（卓上SEM）
6/19 14：00～16：00 DART-MS：JEOL JMS-T100LP
6/25 14：00～16：00 XRM：SKYSCAN 1272（X線顕微鏡/マイクロX線CT）
6/29 13：00～17：00 FE-SEM：ZEISS GeminiSEM560
7/1 13：00～17：00 CLSM：Evident OLS-5100
*実際にご利用いただく際には別途、管理スタッフによる操作指導や最終確認の受講が必要です。
*JCM-6000plus及びOLS-5100, GeminiSEM560は13時開始ですが、５名を超えて応募があった場合は同日の15時から2回目を行います。
◆対象と参加費
どなたでもご参加いただけます。参加費はかかりません。
◆申し込み方法
申し込みは下記リンク先の入力フォームよりお申込みください。
締め切りはご希望の講座が実施される前週木曜日午後１時です。募集定員は各講座５名です。受付は先着順とさせていただきます。
ただし、同じ所属から複数名の申込みがあった場合には所属ごとに日程を調整する場合があります。
また、受付のご連絡は各講座締め切り後に行わせていただきます。
◆その他お問い合わせ先
Tel:0776-27-9795
産学官連携本部II号棟3階 ふくい産学官共同研究拠点管理室